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Micrómetro de placa  
1.930,00 €
Micrómetro de placa planoparalela GPM3   Presupuesto
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En estuche, 10mm. de alcance
Precisión de 0,3 mm por Km en combinación con un nivel NA2/NAK2

 

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Micrómetro de placa planoparalela GPM3

La elevada precisión del dispositivo automático de aproximadamente 0,3" – lo que corresponde a una nivelación de la línea de puntería de aproximadamente 0,01 mm/10 m – constituye, junto con el micrómetro de placa planoparalela GPM3 y el ocular 40× (accesorios suplementarios), la base ideal para utilizar el NA2 en nivelaciones de precisión y mediciones de control.

La lectura numérica del desplazamiento paralelo se efectúa directamente hasta 0,1 mm y a estima hasta 0,01 mm, sobre una escala de vidrio bien iluminada, en un ocular. El trazo cuneiforme del NA2 permite marcar, con alta precisión, el trazo centimétrico en una mira invar.

Micrómetro de placaplanoparalela GPM6

Para trabajos donde la alta precisión del GPM3 no es necesaria y no se quiere renunciar a las ventajas de un micrómetro, está disponible el modelo más sencillo, el GPM6. Este micrómetro también se encaja sobre el objetivo del instrumento, pero posee un tambor numerado en el que se leen directamente los valores de medición.

Accesorios de ocular – para ampliar las aplicaciones del NA2

El cierre de bayoneta estándar del anteojo permite usar con el NA2 también los accesorios de ocular para teodolito, o sea:

Ocular acodado para observación desde un lado o desde arriba, lo cual puede resultar necesario, por ejemplo debido a la estrechez del lugar disponible en laboratorios o plantas de fabricación.

Lámpara de ocular que se necesita en laboratorio para la confección de un colimador automáticamente nivelado.

Ocular autocolimador para la puesta en vertical por ejemplo de máquinas u otros elementos de construcción.

 
 
 
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Leica Geosystems proporciona soluciones y sistemas para posicionamiento, topografía, cartografía, navegación, metrología (mediciones industriales), sistemas de guiado de maquinaria, catastro, edificación y construcción, fotogrametría, minas e ingeniería, procesamiento de imagen para sentido remoto, metrología, y otras aplicaciones topográficas. Los sistemas de instrumentos topograficos para medición incluyen GPS centimetricos de alta precisión, estaciones totales, teodolitos, niveles, niveles láser, GPS para GIS Zeno, software, cámaras aéreas, lásers de punto y linea, dispositivos de medición portátil - Leica DISTO medidor láser y Rangemaster telemetro láser - y sistemas de escáner láser en 3D de alta precisión. Obra pública y control de maquinaria. Ademas están disponibles un amplio numero de accesorios para topografía.
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